本文提出了一种基于模拟电路频率域测试的新型测试集选择技术。我们提出了一种新的自动测试模式生成（ATPG）方法，称为MultiDetect，用于测试线性时不变（LTI）电路。所提出的技术最适合在片上系统中使用现有的构建模块来实现片上测试信号发生器和测试响应分析器。使用MultiDetect方法生成的测试集可以有效地检测和诊断软故障和硬故障当实现为内置自测（BIST）时，不需要任何精密模拟信号源或信号测量电路。基于电路传递函数的模拟模块测试使我们的ATPG通用目的方法适用于各种LTI电路。本文还介绍了一种新的测试方法，即使被测器件饱和或脱离饱和，用简单的检测硬件检测故障。
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